国際標準化

2017年10月13日 (金)

IEC/TC47国際標準化会議(2017年10月9~13日)

 IEC(国際電気標準会議)/TC47(半導体分野技術委員会)の国際標準化会議が、10月9日から13日まで、ロシア・ウラジオストクにて開催されました。
 
  
ウラジオストク市内             TC47会議場
 
 10月9日に開催されたTC47/WG7会議(半導体デバイス エネルギーハーベスタ、エネルギー変換・伝送分野)には23名(日本10、韓国10、中国1、ドイツ3)が出席し、現在審議中の規格案の審議状況について、主査から報告の後、意見交換が行われました。東京大学鈴木雄二教授からは、先生がプロジェクトリーダ(PL)として提案の「低消費電力電子機器向けの力学的環境発電デバイスの試験方法」が、現在、委員会ドラフト(Committee Draft, CD)が回付中の状況である旨、報告がなされました。

WG7会議風景

 10月10日には、TC47/SC47E/WG1-2会議(個別半導体、センサ・高周波デバイス分野)が開催され、28名(日本8、韓国14、中国5、IEC事務局1)が出席し、現在審議中の規格案についての意見交換が行われました。また、今後提案予定の案件を各国が紹介するFuture workプレゼンテーションでは、日本から、現在、経産省の国際標準獲得・普及促進事業としてマイクロマシンセンターがとりまとめて取組み中の「スマートセンシング・インタフェースに関する標準化」に関して、次世代センサ協議会大和田邦樹専務理事より発表を行いました。韓国、中国に加え、ドイツ等の他国の出席があった10月12日に開催のTC47/SC47E全体会議でも、本件のFuture workプレゼンテーションを実施し、TC47/SC47E/WG1において2018年3月に規格案の提案を行うことが、両会議で了承されました。


WG1-2会議風景

 10月11日にはTC47/SC47F/WG’s&MT会議(MEMS分野)が開催され、27名(日本10、韓国10、中国5、ドイツ1、IEC事務局1)が出席し、現在審議中の規格案についての意見交換が行われました。日本提案である「MEMS圧電薄膜の特性測定方法(PL:神戸大学神野伊策教授)」が9月に国際標準として発行されたことが報告されるとともに、MEMS圧電薄膜の信頼性評価方法(神戸大学神野教授)」、「フレキシブルMEMSデバイスにおける曲げ信頼性試験(名古屋工業大学神谷教授)」について審議状況説明・内容紹介を実施し、今後の審議における各国への協力要請を行いました。また、SC47Fの国際幹事を9年務め、今年6月に交代したマイクロマシンセンターの竹内南に、IECより感謝状が授与され、セレモニーが行われました。6月からはマイクロマシンセンターの三原孝士が国際幹事に就任し、竹内は引き続き国際副幹事としてサポートを行っています。


感謝状贈呈式

竹内氏への感謝状

 10月12-13日はTC47/SC47F全体会議、TC47全体会議が開催され、各WGおよびSCにおいて決議された内容について各主査及び議長から報告が行われました。

 次回の本会議は来年10月に韓国・釜山で開催される予定です。

                  調査研究・標準部 大中道 崇浩

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2017年6月12日 (月)

IEC/TC47/SC47Fアドホック会議東京の開催報告

 IEC/TC47技術委員会傘下の、MEMS関連の分科会であるSC47Fのアドホック会議を、6月8日から9日まで、東京・大手町の電子情報技術産業協会(JEITA)にて開催しました。今年は日本がホスト国であり、マイクロマシンセンターが事務局として会議を主催しました。

 6月8日に開催されたTC47/SC47F会議には33名(日本13、韓国8、中国12)が出席しました。韓国からはSC47F議長を務めるソウル科学技術大のS-H.Choa教授を含む大学教授3名、コンビナを務める韓国機械研究院のH-J.Lee部長他、MEMSならびにセンサ分野からの研究者8名が出席、中国からは北京大の教授3名をはじめとした12名が出席し、本分野における標準化に対する、韓国・中国両国のアクティビティの高さがあらためて印象に残りました。日本からも、会議の総合司会を務められたコンビナの熊本大副学長高島和希教授や、同じくコンビナの次世代センサ協議会大和田邦樹専務、SC47F国際幹事・副幹事であるマイクロマシンセンター竹内南・三原孝士をはじめとした13名が参加しました。


6月8日の会議の様子


 会議では、現在審議中の規格案についてコンビナから報告の後、意見交換が実施されました。日本からの提案である「MEMS圧電薄膜の特性測定方法に関する国際標準化(プロジェクトリーダ(PL):神戸大神野伊策教授)」、ならびに、「MEMS圧電薄膜の信頼性試験方法に関する国際標準化(PL:神野教授)」が、現在、それぞれ、FDIS(最終国際規格案)作成中、CD(委員会原案)作成中である旨の報告がなされました。また、日本から今年4月に規格案提出(NP:New work item Proposal)を行った「薄膜MEMS応用デバイスの曲げ信頼性試験方法に関する国際標準化(PL:名古屋工業大神谷庄司教授)」については、内容説明のプレゼンテーションが実施され、各国への審議協力の呼びかけが行われました。


参加者集合写真


 また、同日夕刻には、場所を如水会館に移し、ホスト国日本の招待でのバンケットが開催され、各国の親交を深め、引き続き国際標準化活動における相互協力を誓い合いました。
 


バンケットの様子

 6月9日にはTC47/SC47FのMEMS Workshopが開催されました。8日の会議と同等の出席者があり、全部で4件の発表がありました。日本からは2件、「走査型白色干渉計によるマイクロスケール構造体の応力ならびに応力分布計測(熊本大副学長高島和希教授)」と「スマートセンシング・インターフェースに関する標準化(マイクロマシンセンター大中道崇浩)」の発表が行われました。また、韓国からは韓国機械研究院J-H.Kim博士から、マイクロLEDディスプレイ向け無機デバイスのロール転写技術に関する報告が、中国からは北京大Z.Dacheng教授から、微細加工構造のin-situ・on-chip機械特性試験についての報告がありました。それぞれの発表に対して活発な意見交換が行われ、参加者の意識共有化を図ることができました。


6月9日の会議の様子


 次回会合は、10月にロシア・ウラジオストクで開催されるTC47全体会議の予定です。


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2017年4月20日 (木)

国際標準化IEC TC47/WG6,7アドホック会議報告(4月6-7日)


 IEC/TC47技術委員会傘下のMEMS関連の分科会であるTC47/WG6,7のアドホック会議が、4月6日から7日まで沖縄県那覇市の沖縄県市町村自治会館で開催されました。
 4月6日に開催されたIEC/TC47/WG6,WG7アドホック会議には、27名(日本9、韓国11、中国1、ドイツ1)が出席し、活発な意見交換が行われました。

 TC47国際幹事からは、2016年10月にフランクフルトで開催されたIEC/TC47/WG6,7会議の未確認議事録の紹介が行われ、若干の修正は有ったものの承認されました。
 WG6担当の文書審議には11件の案件が提案され活発な意見交換が行われた。WG7担当の文書審議には6件の案件が提案され、これもまた活発な意見交換が行われました。
 WG6,7に共通な事項としては、3件提案されました。
 一つ目は、Working programに登録されているPJの文書あるいは発行されたISの管轄をTC47直下のWG7に移行したいとの幹事の意向が表明されましたが、文書番号の変更を伴う作業となるためTC内では無理との判断となりました。
 二つ目は東大の鈴木祐二教授を3人目のコンビナに推挙するQ文書が対立候補なしで承認されたとの紹介があり、担当範囲の棲み分け案が紹介されました。
 三つ目は、次回のIEC TC47技術委員会の国際会議を、2017年10月9日にウラジオストックで開催することが報告されました。また、TC47/WG6,7のアドホック会議は、来年3月または4月に行うことが紹介されました。
                                竹内 南


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2016年10月 7日 (金)

IEC TC47国際標準化フランクフルト会議が開催される(10月4-7日)

 IEC/TC47技術委員会の国際会議が、10月3日から7日まで、ドイツ・フランクフルトにて開催されました。

 

 10月3日に開催されたTC47/WG6, WG7会議には27名(日本10、韓国13、中国1、ドイツ1、英国1、米国1)が出席し、昨年10月の、ベラルーシ・ミンスクでの全体会議の審議状況の報告、および現在審議中の規格案について、コンビナから報告の後、意見交換が行われました。Future workとして、東京大学 鈴木雄二教授から「低消費電力電子機器向けの力学的環境発電デバイスの試験方法」についてのプレゼンテーションと、今後の日本からの環境発電に関する提案予定が示されました。

 10月4日にはTC47/SC47F/WG’s&MTジョイント会議が開催され、28名(日本9、韓国13、中国5、ドイツ1)が出席し、ミンスクでの審議状況の報告、および現在審議中の規格案についての意見交換が行われました。その中で日本提案である「MEMSエレクトレット振動発電デバイス(PL:東京大学 鈴木雄二教授)」並びに「MEMS圧電薄膜の特性測定方法(PL:神戸大学 神野伊策教授)」がそれぞれFDIS化、CDV化が承認されました。また、Future workとして、「MEMS圧電薄膜の信頼性評価方法(神戸大学 神野教授)」、「フレキシブルMEMSデバイスにおける曲げ信頼性試験(名古屋工業大学 神谷教授)」、「スマートセンシング・インタフェースに関する標準化(マイクロマシンセンター 坂井)」の3件が日本から報告されました。

  

 10月5-7日はTC47/SC47F, TC47の本会議が開催され、各WGおよびSCにおいて決議された内容が各コンビナ及び議長から報告が行われました。

  

 次回の本会議は来年10月にロシア・ウラジオストックで開催される予定です。

            <調査研究・標準部 坂井 裕一>

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2016年10月 6日 (木)

国際標準化への貢献により磯野吉正氏(神戸大学教授)がIEC1906賞を受賞

 平成28年10月6日、都市センターホテル(東京・永田町)において、経済産業省井原政務官ご臨席のもと平成28年度工業標準化事業表彰式が行われ、神戸大学の磯野吉正教授がIEC906賞を受賞されました。



 IEC1906賞は、1906年に発足したIECの創立100年にちなんで創設された記念行事のひとつであり、IECの活動に対して多大な貢献のあった個人を表彰することを目的に、2004年以降毎年行われています。
 磯野教授は長年にわたり、IEC/TC47/SC47Fにおける国際標準化開発のプロジェクトリーダー及びエキスパートを務めてこられました。特に 、日本から提案し、IEC国際規格として発行された「IEC62047-26:マイクロトレンチ構造及びニードル構造の寸法、形状表示及び計測法」のプロジェクトリーダとして規格案作成・提案から標準化審議のフォローまで一貫してかかわってこられました。これらの功績が認められ今回の受賞となりました。

 当日は工業標準化事業として、内閣総理大臣表彰、経済産業大臣表彰(個人、組織)、国際標準化貢献者表彰、国際標準化奨励者表彰、国際標準化功労者表彰が行われました。IEC1906賞は、日本工業標準調査会(JISC)の友野宏会長より手渡されました。
               <調査研究・標準部 内田和義>

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2016年6月13日 (月)

IEC/TC47/SC47Fアドホック会議開催される(6月9~10日)

 IEC/TC47技術委員会傘下の、MEMS関連の分科会であるSC47Fのアドホック会議が、6月9日から10日まで、中国・成都にて開催されました。
   
 6月9日に開催されたTC47/SC47F会議には37名(日本8、韓国9、中国18、ドイツ2)が出席し、昨年10月の、ベラルーシ・ミンスクでの全体会議の審議状況の報告、および現在審議中の規格案について、コンビナから報告の後、意見交換が行われました。日本からの提案である「MEMSエレクトレット振動発電デバイス(PL:東京大学 鈴木雄二教授)」が現在CDV回付中である旨の報告がなされました。また、Future workとして、神戸大学 神野伊策教授からMEMS圧電薄膜の信頼性評価についてのプレゼンテーションが行われました。
   
 6月10日にはTC47/SC47FのMEMS Workshopが開催されました。9日の会議と同等の出席者があり、全部で5件の発表がありました。日本からは2件、「フレキシブルMEMSデバイスにおける曲げ信頼性試験(北九州環境エレクトロニクス研究所:宍戸先生)」と「スマートセンシング・インタフェースに関する標準化(マイクロマシンセンター:坂井)」の発表が行われました。韓国からも2件の報告があり、グラフェンの機械的特性に関する報告ならびにresonant mass sensorに関する報告がありました。中国からはMEMS chipsに関する技術的要求事項についての報告がありました。それぞれの発表に対して活発な意見交換が行われ、参加者の意識共有化を図ることができました。
   
 次回会合は10月にドイツ・フランクフルトで開催されるTC47全体会議の予定で、各国参加者と再会を約束して会議日程を終了しました。

(調査研究・標準部 坂井裕一)

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2016年4月13日 (水)

IEC/TC47/WG6,7アドホック会議開催される(4月6~8日)

  IEC/TC47技術委員会傘下の、今後発展が期待される半導体デバイス分野であるWG6および、エナジーハーベスティング、エネルギー変換・伝送分野であるWG7のアドホック会議が、4月6日から8日まで、中国・北京にて開催されました。
 4月6日に開催されたTC47/WG6会議には20名(日本3、韓国5、中国11、ドイツ1)が出席し、昨年10月の、ベラルーシ・ミンスクでの全体会議の審議状況の報告、および現在審議中の規格案について、コンビナから報告の後、意見交換が行われました。
 4月7日にはTC47/WG7の会議が開催され、14名(日本3、韓国5、中国5、ドイツ1)が出席しました。6日のWG6の会議と同様、全体会議の審議状況の報告、および現在審議中であるエナジーハーベスタに関する韓国提案5件の規格案について、コンビナからの報告の後、意見交換が行われました。
 その後、新たに設置する我が国の、TC47/WG7国内委員会についての趣旨説明と今後の日本からのWG7への規格案提案予定について、TC47/WG7国内委員会委員長就任予定の東京大学・鈴木雄二教授からプレゼンテーションが行われました。
 出席者には歓迎を持って迎えられ、TC47/WG7において、日本のプレゼンスを示すことができました。
 次回会合は10月にドイツ・フランクフルトで開催されるTC47全体会議の予定で、各国参加者と再会を約束して会議日程を終了しました。
        (調査研究・標準部 坂井裕一)

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2015年12月 8日 (火)

小型ジャイロのJISが発行

 マイクロマシンセンター(MMC)はMEMS関連の標準化を推進していますが、このたび小型ジャイロのJIS規格(JIS C 5630-20)が発行されました。MEMS技術を活用した小型ジャイロはスマートフォン等携帯機器には必須のデバイスとなっています。MMCでは国際標準としてIECに提案し、2014年に国際規格として発行されました。今回のJISはIECとの一致規格として作成・採択されたものです。
 「マイクロマシン及びMEMS-第20部:小型ジャイロ」はジャイロの特性に関する項目と、その測定法を規定しています。構成は次の通りです。
 1. 適用範囲
 2. 引用規格
 3. 用語及び定義
 4. 定格特性
 4.1 ジャイロのカテゴリー区分
 4.2 絶対最大定格
 4.3 推奨動作条件
 4.4 電気的特性
 5. 特性の計測法
 5.1 スケールファクタ
 5.2 他軸感度
 5.3 バイアス測定法
 5.4 出力ノイズ
 5.5 周波数帯域の測定法
 5.6 分解能
 附属書A(参考)ジャイロ特性項目の計測正確性

 規格票のお求めは日本規格協会まで。

   <調査研究・標準部 内田和義>

 

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2015年10月13日 (火)

IEC/TC47/SC47F国際標準化会議開催される(10月6~9日)

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MEMSに関する国際規格はIEC/TC47技術委員会傘下の分科委員会SC47Fが担当しています。今年はSC47Fを含むTC47全体の会議がIEC総会に招致される形で10月6日から9日までベラルーシ・ミンスクで開催されました。

10月6日に開催されたSC47F/WG1~3会議には24名(日本11、韓国7、中国4、ドイツ1、米国1)が出席し、審議中の規格案について各プロジェクトリーダから状況説明の後、意見交換が行われました。 その結果、今年6月にNP(新業務項目提案)が回付された日本提案の「MEMS圧電薄膜の特性測定方法及び報告書様式」は、プロジェクトリーダ(神戸大学・神野伊策教授)による主旨説明及び各国代表との意見交換の後、CD(委員会原案)への移行を決議案としました。また、CD回付済みの日本提案「MEMSエレクトレット振動発電デバイス」のCDV(投票用委員会原案)への移行を決議案としました。

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海外提案では自立MEMS材料の応力緩和試験法(韓国提案)のCDへの移行及び接合領域の切断・押し引張り強度測定法(中国提案)のFDIS移行について各々審議が行われました。

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10月7日に開催されたIEC/SC47F本会議では、前日検討が行われた決議案が承認されたほか、発行済みの22件の国際規格について、存廃及び見直し時期の検討が行われました。さらに、10月9日にはSC47Fの上位委員会であるTC47本会議が開催され、SC47F委員会で行われた議事について報告が行われました。

次回会合は2016年6月に中国・成都で開催されるSC47Fアドホック会議の予定で、各国代表と再会を約束して会議日程を終了しました。(調査研究・標準部 出井敏夫)

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2015年10月 5日 (月)

国際標準化への貢献により諸貫信行氏(首都大学東京教授、IEC/TC47/SC47Fコンビーナー)IEC1906賞を受賞

 平成27年10月5日、都市センターホテル(東京・永田町)において、経済産業省高木副大臣ご臨席のもと平成27年度工業標準化事業表彰式が行われ、首都大学東京の諸貫信行教授が、IEC1906賞を受賞致しました。

 IEC1906賞は、1906年に発足したIECの創立100年にちなんで創設された記念行事のひとつであり、IECの活動に対して多大な貢献のあった個人を表彰することを目的に、2004年以降毎年行われています。

 諸貫氏は、長年にわたり、IEC/TC47/SC47Fにおける国際標準化開発のプロジェクトリーダー及びエキスパートを務めてこられました。特に 、日本から提案し、MEMS分野として最初にIEC国際規格として発行された「IEC62047-1:マイクロマシン及びMEMSに関する用語」のプロジェクトリーダとして規格案作成・提案から標準化審議のフォローまで一貫してかかわってこられました。これらの功績が認められ今回の受賞となりました。

 当日は工業標準化事業として、内閣総理大臣表彰、経済産業大臣表彰(個人、組織)、国際標準化貢献者表彰、国際標準化奨励者表彰、国際標準化功労者表彰が行われました。IEC1906賞は、日本工業標準調査会(JISC)の友野宏会長より手渡されました。

 (調査研究・標準部 内田和義)

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