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2015年10月13日 (火)

IEC/TC47/SC47F国際標準化会議開催される(10月6~9日)

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MEMSに関する国際規格はIEC/TC47技術委員会傘下の分科委員会SC47Fが担当しています。今年はSC47Fを含むTC47全体の会議がIEC総会に招致される形で10月6日から9日までベラルーシ・ミンスクで開催されました。

10月6日に開催されたSC47F/WG1~3会議には24名(日本11、韓国7、中国4、ドイツ1、米国1)が出席し、審議中の規格案について各プロジェクトリーダから状況説明の後、意見交換が行われました。 その結果、今年6月にNP(新業務項目提案)が回付された日本提案の「MEMS圧電薄膜の特性測定方法及び報告書様式」は、プロジェクトリーダ(神戸大学・神野伊策教授)による主旨説明及び各国代表との意見交換の後、CD(委員会原案)への移行を決議案としました。また、CD回付済みの日本提案「MEMSエレクトレット振動発電デバイス」のCDV(投票用委員会原案)への移行を決議案としました。

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海外提案では自立MEMS材料の応力緩和試験法(韓国提案)のCDへの移行及び接合領域の切断・押し引張り強度測定法(中国提案)のFDIS移行について各々審議が行われました。

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10月7日に開催されたIEC/SC47F本会議では、前日検討が行われた決議案が承認されたほか、発行済みの22件の国際規格について、存廃及び見直し時期の検討が行われました。さらに、10月9日にはSC47Fの上位委員会であるTC47本会議が開催され、SC47F委員会で行われた議事について報告が行われました。

次回会合は2016年6月に中国・成都で開催されるSC47Fアドホック会議の予定で、各国代表と再会を約束して会議日程を終了しました。(調査研究・標準部 出井敏夫)

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