« ナノ・マイクロビジネス展開催準備進む <その2> | トップページ | 第9回MEMS標準化ワークショップ(6月6日) »

2013年6月13日 (木)

IEC/TC47/SC47F/WG1アドホック会議(6月4日)

 MEMSに関する国際標準化はIECのTC47/SC47Fが担当していますが、そのアドホック会議が6月4日に中国・広州で開催されました。IECの会議は毎年秋に全体会議が世界各国で開催され(2013年はインド・ニューデリー)、TC47/SC47E&Fアドホック会議が毎年6月に日韓中の各国持ち回りで開催されており、今回のホスト国は中国でした。P6040001a
 会議には日本4名、韓国5名、中国6名の計15名が参加しました。会議では開催宣言に続き、参加者の自己紹介、議事の確認、前回会議の確認及びコンビナから審議状況の報告が行われた後、具体的な規格案の審議が行われました。P6040003a
 審議中の案件では、「バルジ試験法(韓国提案、3rdCD回付終了)に関し、プロジェクトリーダの韓国Dr Yong-Hak Huhより各国コメントに対する修正案について説明が行われ、日本側エキスパート(京都大学・土屋智由准教授)と活発な意見交換が行われました。その結果、今回の議論をふまえた修正案を作成し、他のプロジェクトメンバー(中国、ドイツ)の見解も確認した上で次の段階(CDV)に移行すべきかどうかを判断することになりました。
 このほか、CD回付が終了した韓国提案2件(「PDMS/ガラス接合強度試験法」及び「MEMS膜材料の残留応力測定法」)について、韓国・Se Kwan Park教授より状況説明が行われました。
 次回会合は10月に英国・ロンドンで行われるTC47会議ですが、再会を約束して会議を終了しました。

|

« ナノ・マイクロビジネス展開催準備進む <その2> | トップページ | 第9回MEMS標準化ワークショップ(6月6日) »

国際標準化」カテゴリの記事

コメント

コメントを書く



(ウェブ上には掲載しません)


コメントは記事投稿者が公開するまで表示されません。



« ナノ・マイクロビジネス展開催準備進む <その2> | トップページ | 第9回MEMS標準化ワークショップ(6月6日) »