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2012年7月20日 (金)

IEC/TC47/SC47F/WG1アドホック会議(6月27、28日)

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 MEMSに関する国際規格はIECのTC47/SC47Fが担当していますが、そのアドホック会議が6月27、28日に韓国・済州島で開催されました。IECの会議は毎年秋に全体会議が世界各国で開催され(2012年はノルウェー)、TC47/SC47E&Fアドホック会議が毎年6月に日韓中の各国持ち回りで開催されており、今回のホスト国は韓国でした。
 会議には我が国より11名、韓国より12名、中国より3名の計26名が参加しました。会議では開催宣言に続き、参加者の自己紹介、議事の確認、前回会議の確認、コンビナから審議状況の報告が行われた後、具体的な規格案の審議が行われました。
 審議中の案件では、「熱膨張係数試験法(韓国提案、CDV回付終了)に関し韓国Dr Hak Joo Leeよりコメントに対する修正案について説明が行われた結果、次の段階(FDIS)に移行することになりました。「バルジ試験法(韓国提案、2ndCD回付終了)」についてはDr Yong Hak Huhよりコメントに対する修正案について説明が行われましたが、今回欠席の日本側エキスパート(京都大学・土屋智由准教授)の見解を再確認した上で次の段階(CDVまたは3rdCD)を決めることとしました。「薄膜曲げ試験法(日本提案、CDV回付中)」及び「電子コンパス(日本提案、CDV回付中)」については次回(10月、韓国・済州)に持越し、「小型ジャイロ(日本提案、CD回付終了)」については内容修正の上、2ndCDを回付することとしました。P1010252

 すでにNPが承認され現在CD回付準備中の段階にある韓国提案4件(「薄膜材料のポアソン比試験法」「柔軟基板上の薄膜引張り試験法」「PDMS/ガラス接合強度試験法」及び「残留応力測定法」)について、韓国・Se Kwan Park教授より状況説明が行われました。
 提案予定案件(Future Works)として、神戸大学・磯野吉正教授より、2012年3月までにNP提案を予定しているマイクロトレンチ及びニードル構造の形状表示/計測法について説明が行われました。これに関連して、中国・崔宝氏より「形状計測については中国も関心があり、関連する規格提案の準備を進めている」旨意向が示されました。
 また、東京大学・鈴木雄二教授よりエネルギーハーベスティングに関する新規提案予定に関する説明が行われました。SC47Fの親委員会であるTC47のWG6 (Incubating Group)において、韓国よりすでに2件のNPが提出されており、日本側も韓国NPに賛意を示すとともに、遅くとも2013年3月までにNP提出をめざします。韓国Sekwan Park議長からエネルギーハーベスティングに関する日韓共同のシンポジウム開催の提案があり、中国も加わる形で3カ国の意見交換の機会を探ることとなりました。
 次回会合は10月に今回と同じ会場で行われるTC47会議ですが、再会を約束して終了しました。

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